薄膜厚度测量仪
Thickness Tester
型号：CHY-HS
CHY-HS薄膜厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片等硬质和软质材料厚度精确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。
型号：CHY-HS
CHY-HS薄膜厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片等硬质和软质材料厚度精确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。
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技术参数
测量范围
0-2（其他量程可定制） 分辨率
0.1um 测量速度
10次/min（可调） 测量压力
17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积
50mm²（薄膜），200mm²（纸张）注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩
0 ~ 1300mm（可调）
进样速度
0 ~ 120mm/s（可调） 机器尺寸
450mm×340mm×390mm（长宽高） 重量
23Kg 工作温度
15°C-50°C 相对湿度
最高80%，无凝露 试验环境
无振动，无电磁干扰 工作电源
220V 50Hz 参照标准
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、
ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、
JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817
产品配置
标准配置：主机、标准量块、微型打印机
选用配置：专业软件、通信电缆、配重砝码、自动进样器
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